絕緣阻抗(IR)測試是一種定性測試，提供絕緣系統(tǒng)的相對質量的一個表示。測試時通常用500V或1000V的DC 電壓進行，結果用兆歐電阻(MΩ)來度量。

耐壓測試(Hi-Pot)測試則是一種定量測試，同樣也給DUT施加高壓，但所加電壓比絕緣阻抗(IR)測試的高；而且視不同要求可以在AC或DC電壓下進行。結果則用毫安(mA)或微安(uA)來度量。